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Siril processing tutorial

Alignement (Alignement global sur les étoiles)

Siril possède quatre outils d'alignement automatiques. Dans cet exemple nous ne traiterons que l'outil tout automatique et nouvellement disponible : Global star alignment (Alignement global sur les étoiles). Cette méthode est dédiée à l'alignement d'images du ciel profond et contrairement à l'alignement sur une étoile, elle permet de prendre en compte la rotation de champ entre les images.

Après l'étape de dématriçage (étape précédente), une nouvelle séquence est chargée. Il est possible de la consulter dans l'onglet "image sequences". A partir de cet onglet, on peut naviguer entre les différentes images, les inclure ou les exclure de la séquence. Il est également possible de déinir l'image de référence. En effet, il peut être important de définir une image de référence si vous pensez que celle-ci a une qualité meilleure que les autres ou alors qu'elle est mieux centrée. Une fois l'image de référence définie, l'information est sauvé dans le fichier séquence et cette image sera ouverte en premier a chaque nouveau chargement de la séquence.

Une manière alternative pour naviguer dans les images de la séquence est de cliquer sur le bouton dédié .

Pour procéder à l'alignement, il suffit de cliquer sur le bouton "Go Register". Ensuite, tout est automatique : l'algorithme essayant de faire correspondre des triangles obtenus à partir des étoiles afin d'aligner les images. Il est possible de vérifier les informations d'alignement dans la console de Siril.

Une nouvelle séquence est créée et également automatiquement chargée à la fin de l'étape d'alignement. Enfin, des informations sur les FWHM sont reportées dans la séquence. De cette façon il est possible de sélectionner les meilleurs images pour l'étape d’empilement.

Special cases with low sigma/noise ratio

In some cases, due to high noise level, automatic registration gives wrong results by confusing noise and stars during star detection. To overcome this issue, Siril provides parameters adjustable parameters offering a better tool detection. These parameters are located in the Dynamic PSF window.

In our case, increasing thershold value will give better results.


Prochain sujet du tutoriel : Empilement.